FMP30氧化膜測(cè)厚儀的詳細(xì)資料：

FMP30氧化膜測(cè)厚儀

篤摯儀器（上海）有限公司是從事測(cè)試儀器儀表設(shè)備的代理、銷(xiāo)售和服務(wù)的專(zhuān)業(yè)性公司。與國(guó)內(nèi)外著名儀表生產(chǎn)廠商有著廣泛的技術(shù)與銷(xiāo)售合作的良好基礎(chǔ)，秉承“誠(chéng)信、進(jìn)取、團(tuán)結(jié)、創(chuàng)新”的企業(yè)精神，廣泛服務(wù)于國(guó)內(nèi)科研、教育、工業(yè)、醫(yī)療和政府機(jī)構(gòu)。

經(jīng)濟(jì)耐用的ISOSCPOPE FMP30膜厚儀是一款擁有獨(dú)立的電渦流儀器，適合于需求配置儲(chǔ)存測(cè)量數(shù)據(jù)，輸出和打印功能的使用者。ISOSCOPE MP30能記憶多達(dá)一百個(gè)應(yīng)用程式中四千個(gè)數(shù)據(jù)組中的兩萬(wàn)個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)。 ISOSCPOPE FMP30膜厚儀擁有有一個(gè)方便讀取的60 x 30 mm （2.4" x 1.2"）液晶顯示器，能夠顯示大量信息，使得使用者操作非常的方便，能夠單個(gè)測(cè)量讀數(shù)，次數(shù)測(cè)量統(tǒng)計(jì)，應(yīng)用方程式，組別，數(shù)字統(tǒng)計(jì)，Cp和 Cpk，超出限制的產(chǎn)品規(guī)格，時(shí)間和日期，以及顯示操作模式和設(shè)置的*的符號(hào)和圖標(biāo)，2行文字擁有16個(gè)字母還可以自己添加符號(hào)來(lái)顯示數(shù)字和操作員提示。 ISOSCPOPE FMP30膜厚儀能夠打印柱狀圖，分布顯示圖表，以及Cp和 Cpk指標(biāo)的功能。

IsoScope FMP30測(cè)厚儀專(zhuān)業(yè)認(rèn)證
+用于測(cè)量非鐵磁金屬基材上的油漆，清漆或塑料涂層，鋁上陽(yáng)極涂層和非導(dǎo)電載體材料上的導(dǎo)電涂層。 （使用根據(jù)ISO 2360的渦流法測(cè)量，ASTM D7091）

電渦流測(cè)量原理：

高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類(lèi)測(cè)頭專(zhuān)門(mén)測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱(chēng)之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測(cè)頭不同，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

  采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車(chē)輛、家電、鋁合金門(mén)窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類(lèi)任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適。

測(cè)量策略和評(píng)估
•根據(jù)IMO PSPC，SSPC-PA2，QUALANOD和QUALICOAT存儲(chǔ)的測(cè)量規(guī)格
•能夠?qū)ο嚓P(guān)多點(diǎn)測(cè)量啟用矩陣測(cè)量模式
•測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值：僅存儲(chǔ)幾個(gè)讀數(shù)的平均值
•通過(guò)面積測(cè)量進(jìn)行測(cè)量采集：捕獲單個(gè)讀數(shù)，直到探頭剝離并平均
•用于自動(dòng)消除錯(cuò)誤測(cè)量的異常值抑制設(shè)置
•自由運(yùn)行顯示，附加顯示讀數(shù)作為容差極限之間的模擬量
•統(tǒng)計(jì)顯示塊中zui重要的值和zui終結(jié)果。 方差分析值的輸出
•圖形測(cè)量顯示為直方圖
•輸入過(guò)程容限限制和相關(guān)過(guò)程能力指標(biāo)cp和cpk的計(jì)算能力